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イラスト素材: 半導体ウエハ検査工程図 欠陥検出とスキャン検査装置の模式図

素材番号 : 137955982 全て表示

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半導体ウエハ検査工程図 欠陥検出とスキャン検査装置の模式図 137955982
半導体ウエハ検査工程図 欠陥検出とスキャン検査装置の模式図 137955982

半導体ウエハ検査工程図 欠陥検出とスキャン検査装置の模式図

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プリペイド価格
S
  • 640 x 360px
  • 22.6 x 12.7cm (72dpi)
 JPG+PNG ¥550
M
  • 2000 x 1125px
  • 16.9 x 9.5cm (300dpi)
 JPG+PNG ¥1,980
L
  • 4000 x 2250px
  • 33.9 x 19.0cm (300dpi)
 JPG+PNG ¥3,630
XL
  • 6300 x 3544px
  • 53.3 x 30.0cm (300dpi)
 JPG+PNG ¥5,500
V ベクター EPS ¥3,850
Ex エクストラライセンスを追加 +¥3,300
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